太陽能雙85濕熱試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)

.asLi. 

一、

濕熱試驗(yàn)箱適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備。ASLi濕熱試驗(yàn)箱采用進(jìn)口溫濕度控制器，箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，操作簡(jiǎn)便。箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口不銹鋼鏡面板，外膽采用A3鋼板噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。試驗(yàn)箱底部采用可固定式PU活動(dòng)輪。

濕熱試驗(yàn)箱滿足的標(biāo)準(zhǔn)：

  GJB150.3（ML-STD0-810D）高溫試驗(yàn)方法

  GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗(yàn)方法

  GJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》

  GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》

  GJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》411濕熱試驗(yàn)

  GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》

  GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

  GB10586-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

  GJB360.8-87（MIL-STD-202f）高溫壽命試驗(yàn)

  GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》

  GB/T5170.5-96《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》

二、

雙八五濕冷凍試驗(yàn)箱適用于電工電子、儀器儀表及其他零部件、材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、使用的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備，特別適用于光纖、LCD、晶體、電池、電感、PCB、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。

雙八五濕冷凍試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：

雙八五濕冷凍試驗(yàn)箱性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求:

  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB2423.1-89 （IEC68-2-1）

  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB2423.2-89 （IEC68-2-2）

  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T2423.3-93（IEC68-2-3）

  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93（IEC68-2-30）

更多環(huán)境濕熱試驗(yàn)箱、太陽能光伏老化箱的資料請(qǐng)登錄：.asLi163. ，或咨詢：、 ！